Author: Zahra Ghaderi

Post Image

Kokusai Electric relies on patterned 3D substrates in thin film process metrology

Kokusai Electric relies on patterned 3D substrates in thin film process metrology Kokusai Electric is…
Post Image

Chipmetrics Oy:n siemenrahoituskierros päätökseen

Chipmetrics Oy, Atomic Layer Deposition (ALD)-teknologiayritys ja ALD-prosessien mittaamiseen kehitettyjen tuotteistettujen 3D-testirakenteiden markkinajohtaja, on saanut…
Post Image

Chipmetrics announces completion of the seed investment round

05.09.2022 – Joensuu, Finland Chipmetrics Ltd, the ALD (Atomic Layer Deposition) technology company and the…